XR檢測設備
引領微顯示檢測技術賦能AI終端全新交互體驗
晶圓顯示AOI檢測設備
對于硅基Micro LED/OLED產品點亮后的光學、電學等性能，進行拍照、分析檢測的全自動設備，應用在Micro LED顯示產品切割前的Cell段點燈工序的顯示功能及缺陷檢測。
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產品優勢
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01高分辨率光學系統，最小可對應2.5μm Pitch像素的檢測
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02全自動優化設計，可實現高速檢測，Wafer AOI Test：TT＜15S/DIE
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03高準確率算法設計，判級準確率≥99%
產品功能
1.Micro-LED/OLED Wafer產品屏幕點亮后的畫面檢測
2.測試項目包括亮度，波長測試，死點、暗點、亮點測試等
3.可對接自動上料及MES系統
