XR檢測設備
引領微顯示檢測技術賦能AI終端全新交互體驗
成像式亮度計
廣泛應用于顯示器件、Micro-LED、Mini-LED、AR/VR近眼顯示、車載顯示、背光模組及光學模組等領域的亮度均勻性和缺陷檢測，可快速捕獲被測物體整個表面的亮度分布信息，精準測量亮度&亮度均勻性等核心光學參數，支持單像素級精細化檢測，能高效識別發光表面暗點、亮點、Mura（亮度不均）等細微缺陷。
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產品優勢
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01采用高像素CMOS傳感器，可實現微米級空間分辨率，適用于Micro-LED、OLED等微顯示器件檢測
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02一次采集即可獲取整個顯示區域的亮度分布圖，顯著提升檢測效率
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03可集成自動對焦、自動曝光及工業接口，適用于產線自動檢測系統
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04開放的測量與分析能力，支持多種定制需求；高一致性與穩定性設計，適合工程與產線應用
產品功能
1.二維亮度分布測量：實時獲取被測目標的亮度分布圖像，并計算最大值、最小值、均值、均勻性等關鍵指標
2.ROI區域分析與批量統計：支持單點、矩形、陣列等多種ROI設定方式，適合像素級、模組級亮度分析
3.亮度一致性與缺陷評估：可用于亮度異常檢測均勻性評估、暗點/亮點檢測及趨勢分析，輔助工藝與良率評估
4.標定與數據追溯支持：支持系統級亮度標定流程，測量結果具備可追溯性，滿足研發和客戶審核需求
